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棋盤(pán)式幾何分辨率測(cè)試卡
熱度：7789 上市日期：2019.04.11
棋盤(pán)式幾何分辨率測(cè)試卡被設(shè)計(jì)用來(lái)檢查幾何失真和分辨率
- 名稱(chēng)：棋盤(pán)式幾何分辨率測(cè)試卡
- 品牌：愛(ài)色影（iSeetest）
- 型號(hào)：ISS-190-411
- 尺寸：可定制
- 類(lèi)別：反射式/透射式
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- 價(jià)格：點(diǎn)擊詢(xún)價(jià)
產(chǎn)品說(shuō)明
- 測(cè)試卡類(lèi)似于一個(gè)由13×18的黑色和白色正方形區(qū)域以及由矩形區(qū)域在對(duì)應(yīng)于電子測(cè)試生成器14/19網(wǎng)格光柵線(xiàn)邊緣所包圍的棋盤(pán)。（整個(gè)圖卡發(fā)生器的水平網(wǎng)格線(xiàn)被劃分為相應(yīng)于42行）
- 九個(gè)扇形星內(nèi)圓線(xiàn)條標(biāo)出625線(xiàn)結(jié)構(gòu)。較大的圓形線(xiàn)條標(biāo)出312線(xiàn)的結(jié)構(gòu)。橫向?qū)?yīng)的垂直線(xiàn)光柵分布著33個(gè)白格。它們對(duì)應(yīng)于2，3.5和5MHz頻率柵格。
- 測(cè)試卡可以檢查幾何形狀和光柵的一致性、信號(hào)生成的均勻性、分辨率及其在圖像區(qū)域分布及后焦距。
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