點(diǎn)光源測(cè)試卡
熱度:10013 上市日期:2017.11.16
點(diǎn)光源測(cè)試卡主要用來模擬高亮度點(diǎn)狀光源,用于測(cè)試攝像頭的雜光與鬼影等現(xiàn)象。
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名稱:點(diǎn)光源測(cè)試卡
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型號(hào):ISD-171-116D
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品牌:Aisein
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尺寸:外部450×300mm
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材料:光學(xué)玻璃
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價(jià)格:點(diǎn)擊詢價(jià)
技術(shù)說明
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雜光stray light、鬼影ghost的概念。
雜光:攝像頭形成物體的實(shí)像時(shí),除了成像光線,還有其他非成像光線在光學(xué)系統(tǒng)像面上擴(kuò)散,這些非成像光線就叫做雜光。
鬼影:暗室下對(duì)白熾燈或日光燈進(jìn)行測(cè)試出現(xiàn)亮團(tuán)狀雜光,即為鬼影。鬼影普遍無法消除,尤其在高亮白熾燈下更為明顯,可采取對(duì)鏡片鍍膜的方式來減淡鬼影。
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雜光、鬼影測(cè)試卡則是模仿白熾燈和點(diǎn)光源,固定在可調(diào)照度透射式攝像頭測(cè)試燈箱中測(cè)試使用,可以從多個(gè)角度快捷方便拍攝;而且光照強(qiáng)度可以調(diào)節(jié),光源亮度可以滿足各種需求。
使用說明
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將測(cè)試卡插入ISS-171-030可調(diào)照度透射式攝像頭測(cè)試燈箱卡槽中。
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調(diào)節(jié)光照強(qiáng)度控制按鈕,攝像機(jī)對(duì)準(zhǔn)光源拍攝,肉眼觀察圖像是否出現(xiàn)雜光、鬼影等現(xiàn)象。